Способ определения индексов для оценки качества овощной культуры

Патентообладатели

Общество с ограниченной ответственностью «Гетерозисная селекция» (ООО «Гетерозисная селекция»); Федеральное государственное бюджетное научное учреждение «Федеральный исследовательский центр институт цитологии и генетики» (ИЦиГ СО РАН).

Авторы: Алилуев А.В., Авдеенко Л.М., Штайнерт Т.В.

Краткая характеристика

Проводят инструментальные измерения параметров овощной культуры, вычисляют отношение измеренной величины каждого параметра овощной культуры к средней арифметической величине данного параметра этой овощной культуры или величине стандарта данного параметра этой овощной культуры. Затем вычисляют отношение суммы результатов вычисленных отношений параметров, влияющих положительно на общую оценку качества овощной культуры к отношению суммы результатов вычисленных отношений параметров, влияющих отрицательно на общую оценку качества овощной культуры. Результат вычисления принимают в качестве индекса для оценки качества овощной культуры.

Области возможного использования

Способ может быть использован в селекции и товарном производстве при оценке сортов, линий, гибридов для получения статистических данных.

Степень готовности разработки к практическому применению

Разработка готова к практическому применению.

Возможный технический и (или) экономический эффект

Способ позволит дать объективную оценку большой выборки изучаемых объектов (в данном случае сортов овощных культур), сделать селекционный процесс более рациональным, провести выбор сорта как для мелко-товарного производства (частного огородничества), так и для промышленного.

Сравнительные характеристики с известными разработками

Известные ранее способы допускают высокую долю субъективной оценки и не позволяют сравнивать в комплексе признаки, имеющие разные значения. Предлагаемый способ обеспечивает объективную комплексную оценку качества овощных культур при оценке сортов, линий, гибридов.

Патентная защита разработки

Патент № 2739219 , приоритет от 15.02.2019, дата выдачи патента: 22.12.2020. Опубл. 22.12.2020 Бюл. № 36.